作者：Walt Kester
简介
用于定量表示ADC动态性能的常用指标有六个，分别是：SINAD(信纳比)、ENOB(有效位数)、SNR(信噪比)、THD(总谐波失真)、THD + N(总谐波失真加噪声)和SFDR(无杂散动态范围)。对于这些指标，虽然大部分ADC制造商采用相同的定义，但也存在一些例外。比较ADC时，这些指标非常重要，因此不仅要了解各指标反映哪一方面性能，而且要明白它们之间的关系。
有多种方法可以量化ADC的失真和噪声，但所有方法均基于一种使用一般化测试设置的FFT分析，例如图1所示的设置。
FFT的频谱输出是频域中连续的M/2个点(M为FFT的大小，即缓冲存储器中存储的采样点数)。两点之间的间隔为fs/M，覆盖的总频率范围为DC至fs/2，其中fs为采样速率。各频率“仓”的宽度(有时也称为FFT的“分辨率”)为fs/M。图2所示为使用ADI公司ADIsimADC®程序得到的一个理想12位ADC的FFT输出。注意，FFT的理论噪底等于理论SNR加上FFT“处理增益”10×log(M/2)。必须记住，用于计算SNR的噪声值是分布于整个奈奎斯特带宽(DC至fs/2)的噪声，而FFT用作一个带宽为fs/M的窄带频谱分析仪，它扫描整个频谱，其结果是将噪声下推一个与处理增益相等的量，该效应与模拟频谱分析仪的带宽窄化相同。
