iCoupler隔离产品的ESD/闩锁考虑因素



简介

ADI公司的iCoupler®产品提供了一种替代光耦合器的隔离解决方案,具有出色的集成度、性能和功耗特性。一个iCoupler隔离通道包括CMOS输入和输出电路与一个芯片级变压器(见图1)。由于数字隔离器采用CMOS技术,因此在系统级ESD(静电放电)、电涌电压、快速瞬变或其他过压条件下,它们容易受到闩锁或ESD的破坏。

本应用笔记提供关于避免这些问题的指南。针对各种系统级测试配置,本文举例说明了其可能影响性能的机制。针对每个示例,本文都给出了推荐解决方案。

器件与系统

简单地说,器件是带互连线的单一集成装置,而系统则是由多个互连器件构建而成的非集成装置。器件与系统几乎在所有情况下都是泾渭分明。但是,器件测试与系统测试之间的区别可能并不是那么明显。此外,器件的技术规格可能并未直接说明它在系统级测试中的表现。ESD测试就是一个很好的例子。

四通道隔离器

图1. 四通道隔离器

ESD、电涌、突波和快速瞬变事件是电气应用中的基本现实。这些事件一般都含有高压、持续时间很短的尖峰,并且直接或间接作用于器件。其产生原因是器件与各种实际现象的交互,如人体接触、交流线路扰动、雷击或系统地之间的共模电压差等。

为了确定器件在组装成系统之前以及组装过程中被人和自动化组装设备处理的鲁棒性,器件级ESD测试最为有用。然而,对于确定器件在系统内遭受系统级ESD事件的鲁棒性,器件级ESD数据则不太有用。其原因有如下两方面:

• 系统级与器件级ESD测试的目的不同。器件级测试所应对的情况通常是器件搬运和组装过程中会遇到的情况,而系统级测试所应对的情况通常是系统运行中会遇到的情况。

• 器件在系统级测试期间所承受的特定状况可能与它所在的电路板/模块/系统设计密切相关。例如,系统与器件地之间的长感性走线对器件造成的电压瞬变,实际上比它对系统在测试点造成的电压瞬变可能更为严重。

详文请阅:iCoupler隔离产品的ESD/闩锁考虑因素

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