了解高速DAC测试和评估

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selina 发布于:周四, 08/31/2017 - 08:42 ,关键词:

作者:Justin Munson

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本应用笔记介绍ADI公司高速转换器组表征高速数模转换器(DAC)的性能时所用的测试方法。评估高速DAC时,应当参考本应用笔记和相应的器件数据手册。更多信息,请联系高速转换器组。

动态测试硬件设置

测试无杂散动态范围(SFDR)、交调失真(IMD)和噪声谱密度(NSD)等交流(AC)参数的典型硬件设置如图1所示。用于动态测试的基本设置包括DAC时钟的正弦源、低噪声电源、频谱分析仪和数据模式发生器。可以使用各种类型的模式发生器在DAC中驱动CMOS或LVDS数据,包括任意波形发生器(AWG)和现场可编程门阵列(FPGA)等。ADI公司也提供了一种数据模式发生器,以协助进行基准评估。

典型交流特征测试设置

图1. 典型交流特征测试设置

详文请阅:了解高速DAC测试和评估

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