David Bennett和Richard DiAngelo ADI公司
脉冲雷达应用之类的系统采用高集成度、高精密度、高功率射频 (RF) GaN功率放大器 (PA)，当今数字控制与管理系统必须适应不断提高的复杂度，这是一个持续挑战。要在这一市场中竞争，当今控制系统必须极其灵活、可重用且能轻松适应各种RF放大器架构，从而满足客户的特定需求。这些复杂管理系统需要创新补偿算法、内置测试(BIT)特性、本地和远程通信接口、关键系统性能参数与环境状况监测，以及系统故障防护。推动此类系统复杂度提高的因素是基于半导体的RF系统对更高功率的需求。
这种高功率系统会产生非常多的热量，进而影响放大器性能和平均故障间隔时间 (MTBF)。此类系统需要的RF放大器MMIC是昂贵的高功率器件。因此，客户希望实时监测GaN PA系统的性能和温度，以便检测到即将发生的问题，采取必要措施，防患于未然。借助适当的控制电子设计，实现方案可以非常灵活，并且能够配合任何RF放大器架构使用。数字电子装置可以针对客户需求量身定制。数字设计可以包括内置保护逻辑，当接近损害阈值时禁用GaN RF放大器。这些关键特性对于优化宽带宽和温度范围内的RF性能至关重要，有助于实现高水平的可测试性、可维护性、系统易集成性和校准，从而提供与众不同的技术。
